工作原理
A650采用能量色散型X射線熒光光譜(ED-XRF)技術。儀器內置微型X射線管,通過高壓激發產生高能X射線,照射樣品表面后,樣品中的原子核外電子受激發躍遷,釋放出具有特征能量的X射線熒光。高分辨率硅漂移探測器(SDD)捕獲這些熒光信號,經多道分析器(MCA)轉換為數字信號,再通過智能算法解析能量譜線,最終輸出元素種類及含量。整個過程無需制樣、無化學污染,單次檢測時間僅需3-10秒。
應用范圍
金屬加工:來料檢驗、生產過程成分監控、不合格品篩查;
廢舊回收:廢舊金屬分類、貴金屬含量快速評估;
航空航天:高溫合金、鈦合金等關鍵材料成分驗證;
電力石化:管道、閥門等設備材質鑒定及腐蝕分析;
珠寶文博:貴金屬飾品純度檢測、文物金屬成分溯源。
技術參數
元素檢測范圍:Mg(12)~U(92);
檢測限:10-500ppm(視元素及基體而定);
管電壓/電流:5-50kV/0-100μA可調;
探測器:高性能SDD探測器,分辨率<145eV;
分析時間:3-300秒(用戶可自定義);
防護等級:IP54(防塵防水),適應惡劣環境。
產品特點
便攜高效:整機重量僅1.5kg,配備可充電鋰電池,支持8小時連續作業;
智能操作:5英寸觸控屏,內置合金牌號庫(覆蓋ASTM、GB等標準),一鍵匹配材質;
精準可靠:采用動態校準技術,自動補償基體效應,重復性誤差<0.05%;
安全耐用:三級輻射屏蔽設計,通過CE/RoHS認證,適應-10℃~50℃工作溫度。