北京有色金屬分析檢測設備

XNDT-101鑄造件缺陷在線檢測機 4385     

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XNDT-101主要由X射線源、線陣探測器、傳動系統和主機電腦組成，實現對鑄造件內部缺陷的在線檢測。

XNDT-102 便攜式探傷儀 3668     

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XNDT-102便攜式成像系統由1個探測器盒、1臺便攜式射線源和1臺筆記本電腦組成，可用于公共安全場合的包裹安全檢查、工業無損檢測等。

XNDT-103異物在線檢測機 4973     

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XNDT-103主要由X射線源、線陣探測器、傳動系統和主機電腦組成，并提供一組繼電器輸出信號，用于剔除不合格產品。廣泛用于食品、服裝、鞋類、再生資源回收等行業的異物檢測。

場發射透射電子顯微鏡 3688     

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JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。 利用200KV場發射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。 高亮度的場發射電子槍，輕松實現各種分析功能。

紅外光譜儀 3142     

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傅立葉變換紅外光譜儀能在最短的時間內分析具有挑戰性的樣品，提供最完善的解決方案。分析實驗室對能夠高效完成原材料和最終產品的分析任務的儀器的需求與日俱增尼高力 NICOLET IS10傅立葉變換紅外光譜儀顯著簡化了傳統傅立葉變換紅外光譜儀的數據分析，樣品采集和儀器驗證環節，成為完成這類分析任務的一種較好的選擇為確保儀器性能而設計系統性能確認（SP）是一個確保光譜儀長期穩定運行的有力工具。

熱重分析儀 3335     

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STA 449 F3 JUPITER 包含TG與DSC測試系統。具有如下顯著優點：消除稱重量、樣品均勻性、升溫速率、氣氛壓力與流量差異等因素影響，TG與DTA/DSC曲線對應性更佳。同步熱分析儀根據某一熱效應是否對應質量變化，有助于判別該熱效應所對應的物化過程（如區分熔融峰、結晶峰、相變峰與分解峰、氧化峰等）。同步熱分析儀在反應溫度處知道樣品的當前實際質量，有利于反應熱焓的準確計算。

紫外可見近紅外分光光度計 3152     

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島津UV－3600是世界領先的高性能的紫外可見近紅外分光光度計，性能卓越。紫外可見分光光度計是每個化學分析實驗室必備的常用儀器設備之一，在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應用。島津的紫外可見分光光度計產品線非常豐富，從最普通的單光束分光光度計到測量范圍可以擴展到深紫外、近紅外區域的UV－VIS－NIR分光光度計。

球差電鏡測試 2972     

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JEM-ARM200F差校正透射電鏡，擁有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,標配了掃描透射環形明場(STEM-ABF)成像模式。對樣品在納米尺度的精細結構和化學成份進行高水平表征檢測。用于納米科學、材料科學、生命科學等領域的科研項目。

工業CT 2994     

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XRADIA CONTEXT MICROCT，是一款大觀察視野、無損 3D X射線微焦點計算斷層掃描系統。可滿足多種 3D 表征和檢測需求的成像解決方案，不僅能夠在3D全景中展示完整大樣品的內部細節，還能針對小樣品使用大的幾何放大倍數實現高分辨率和高襯度成像觀察細節特征。XRADIA CONTEXT 建立在歷經考驗的蔡司XRADIA平臺之上，圖像質量、穩定性和易用性均屬上乘，且具備高效的工作流環境和高通量掃描功能。

差示掃描量熱儀 3414     

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耐馳差示掃描量熱儀DSC214對于日常的 DSC 測試提供了強有力的解決方案，并在硬件與軟件方面作了極大的改進。儀器在易于操作的同時提供了的可靠性，使得這款儀器成為包括聚合物工業在內的諸多行業進行產品研發，質量控制與失效分析的理想工具。

洛氏硬度計 2892     

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洛氏硬度計是世界上第一臺依據洛氏硬度試驗原理設計的，只需要單側接觸試樣就可測試金屬硬度的洛氏硬度計，依靠磁力將洛氏硬度計測頭吸附在鋼鐵表面，不需要對試樣進行支撐，測試精度符合標準GB/T230、ISO6508，不低于臺式洛氏硬度計。利用磁力吸盤將硬度計固定在鋼鐵工件表面，無需支撐，無需取樣，不用移動 工件，只要單側接觸即可完成測試。

數顯顯微維氏硬度計 2509     

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HVS-50型數顯維氏硬度計是光機電一體化的高新技術產品，具有良好的可靠性，可操作性，是小負荷維氏硬度計的升級換代產品。

X射線熒光光譜儀 3703     

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ARL ADVANT X 是一臺靈活、高性能的順序式 XRF 光譜儀，可分析周期表中多達84種元素。可選四種功率（從 1200W 至 4200W ），不僅能優化性能還可優化日常和苛刻應用的操作成本。X 射線熒光光譜儀 （XRF） 分析是一項應用廣泛的分析技術，可利用簡易的樣品制備和無損分析，對各種固體和液體樣品進行元素分析。

X射線光電子能譜儀 3028     

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ESCALAB 250XI X射線光電子能譜儀是一臺多功能高性能的表面分析儀器，它可以用于研究各種固體材料樣品表面（1-10NM厚度）的元素種類、化學價態以及相對含量。結合離子刻蝕技術還可以獲得元素及化學態深度分布信息；通過成像技術可以獲得元素及化學態的面分布信息；利用微聚焦X射線源或電子束可以獲得微區表面信息。

電子探針顯微鏡（EPMA） 3736     

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日本電子 JXA-8230電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。日本電子新開發出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結果。JXA-8230電子探針是能完全滿足多種需求的強力分析工具之一。

激光粒度儀（粒度/zeta） 2426     

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ZETASIZER NANO ZS90 ZETA電位分析儀是一款高性價比的分子/粒度和ZETA電位分析儀。使用動態光散射以90度散射角測量顆粒和分子粒度，具有使用激光多普勒微電泳測量ZETA電位和電泳遷移率的能力，以及使用靜態光散射測量分子量。動態光散射檢測由于顆粒布朗運動而產生的散射光的波動隨時間的變化。檢測器將散射光信號轉化為電流信號，再通過數字相關器的運算處理，得到顆粒在溶液中擴散的速度信息，即擴散系數。通過STOCKES-EINSTEIN方程可以得到粒徑大小及其分布。

等離子聚焦離子束系統 2720     

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蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列，是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結合。無論是加工、成像或進行3D分析，都能在不損失精度的前提下，提高聚焦離子束的應用效率。

X射線衍射儀 2958     

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X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！

拉曼光譜儀 2733     

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拉曼光譜儀是測定分子振動光譜的儀器，可用于有機化合物、無機化合物、高分子聚合物、生物膜等各種材料的結構特性分析。采用共焦光路設計，研究物質成分的判定與確認；與紅外光譜互補， 是分析物質組分、結構等的光譜分析手段之一。

核磁共振儀 4402     

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核磁共振儀主要用于有機化合物、生物蛋白質分子的結構確證、鑒定或結構、空間的構型分析。能對多種復雜分子如有機化合物、合成高分子、金屬有機化合物及絡合物等進行結構分析。該儀器是化學、物理學以及生命科學等多學科研究物質成分、結構和動態強有力的常規工具。

場發射掃描電子顯微鏡 3575     

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日立場發射掃描電子顯微鏡SU8020采用日立技術公司全新開發的冷場電子槍，實現超高分辨率下觀察的同時，穩定的束流亦可滿足長時間下的分析需求。是利用二次電子和背散射電子信號，通過真空系統、電子束系統和成像系統獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等的一種分析儀器。

有機元素分析儀 2758     

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VARIO EL CUBE動態范圍寬，允許樣品的測量范圍從低微克級到數十毫克。樣品類型從純有機材料（如汽油）到有機含量極低的沉積物皆可。即使是含氟樣品也能耐受。結合其出色的精度，VARIO EL CUBE為各種樣品類型提供靈活可靠的解決方案。VARIO EL CUBE對氫元素的檢測也能獲得高精度。通過一個可靠的熱導檢測器，避免了紅外檢測H2O可能會遇到干擾物和精度不準等問題。

原子力顯微鏡 3284     

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DIMENSION ICON 可以實現所有主要的掃描探針成像技術，其測試樣品尺寸可達：直徑210MM，厚度15MM。溫度補償位置傳感器使Z-軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平。對于大樣品、90微米掃描范圍的系統來說，這種噪音水平超越了所有的開環掃描高分辨率的原子力顯微鏡。全新的XYZ閉環掃描頭在不損失圖像質量的前提下大大提高了掃描速度。

EBSD背散射 2485     

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EBSD——電子背散射衍射儀——是一種強大的微觀分析儀器，它能精密的分析和表征晶態材料的微觀組織和性能，提高速度和數據質量。 SYMMETRY是牛津儀器公司基于CMOS技術發展的全新一代EBSD探測器，擁有空前的性能和易用性。

場發射透射電子顯微鏡 3467     

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TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡是一個多功能、多用戶環境的200KV場發射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明場、暗場像和髙分辨像，能進行選區電子衍射，能進行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數像的分析，STEM結合EⅨ點、線掃描的可以進行微區能譜分析。