1.本實用新型涉及一種集成電路測試分選機分類裝置。
背景技術(shù):
2.集成電路測試分選機能夠完成集成電路檢測、分類和編帶工作;目前集成電路測試分選機上完成分類的分類裝置僅能夠?qū)⒓呻娐贩譃閮深悾春细衽c不合格分類,分類不夠全面。同時,對集成電路進行分類的分類機構(gòu)多是采用抓取的方式,工作效率較低。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
3.有鑒于此,本實用新型的目的是提供一種可以一分多路進行分類,工作效率高的集成電路測試分選機分類裝置。
4.本實用新型采用以下方案實現(xiàn):一種集成電路測試分選機分類裝置,包括分料室,所述分料室頂部設(shè)置有接料座,所述接料座上開設(shè)有接料孔,所述接料座下方設(shè)置有通過轉(zhuǎn)動進行分料的分料座,所述分料座上端設(shè)置有對準接料孔的進料孔,分料座下端設(shè)置有偏離中心的出料孔,分料座內(nèi)部設(shè)置有連通進料孔和出料孔的通道;所述分料座下方設(shè)置有支撐著分料座的支撐板,所述支撐板上開設(shè)有多個沿圓周分布并通過分料座轉(zhuǎn)動擇一與出料孔對接的過料孔,支撐板下方設(shè)置有多個與過料孔上下一一對應(yīng)的接料盒。
5.進一步的,還包括位于分料室底部的底座,底座從分料室前側(cè)向前伸出,底座上側(cè)設(shè)置有能相對其前后滑動的滑板,所有接料盒放置在所述滑板上,所述分料室前側(cè)下部開設(shè)有供滑板及其上接料盒通過的窗口。
6.進一步的,所述滑板前端連接有把手,所述滑板后端連接有磁塊a,分料室內(nèi)部后側(cè)設(shè)置有用以吸附磁塊a的磁塊b以及用以感應(yīng)磁塊a的接近傳感器;所述接料盒底部開設(shè)有一對限位槽孔,所述滑板上側(cè)在每個接料盒放置位上均設(shè)置有一對與限位槽孔配合的限位凸柱。
7.進一步的,所述底座上側(cè)沿前后方向開設(shè)有滑槽,滑板底部安裝有與滑槽滑動配合的滑塊,滑板底部在滑塊前側(cè)安裝有磁塊c,底座在滑槽前端安裝有用吸附磁塊c的磁塊d。
8.進一步的,所述接料座上側(cè)在接料孔旁側(cè)設(shè)置有用以感應(yīng)集成電路的對射式光電傳感器a,接料側(cè)上側(cè)連接有伸入接料孔中并向下吹氣的吹氣管。
9.進一步的,所述接料座上安裝有電機,所述分料座通過同步帶和兩個同步帶輪與電機傳動連接;所述支撐板下側(cè)安裝有一上一下的兩塊墊板,墊板上開設(shè)有與支撐板上過料孔一一對應(yīng)的通孔,墊板旁側(cè)也安裝有用以感應(yīng)集成電路的對射式光電傳感器b,兩墊板之間留有供對射式光電傳感器b的射線穿過的縫隙。
10.進一步的,所述支撐板上側(cè)安裝有用以感應(yīng)分料座位置的位置傳感器,所述分料座側(cè)部設(shè)置有與位置
聲明:
“集成電路測試分選機分類裝置的制作方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)